蘭泰測厚儀的渦流測量原理是高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

   

蘭泰測厚儀測量時注意事項：

    蘭泰測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

    ⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

    ⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。

    ⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

    ⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

    ⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

    ⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

    ⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。

    ⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。